ZS1-AV6334光率計是種**化、精度、靈敏度的光率計，可行寬動態范圍、精度光率測量、分辨率的損耗測量和穩定度測試。配備GPIB接口和RS232接口，可組成自動測試系統。廣泛用于光通信設備、光纖、光無源器件的測試，具有率范圍寬、測試精度、性價比、可靠性好、操作簡單等點。該產品為系列光率計，分為ZS1-AV6334A、ZS1-AV6334B、ZS1-ZS1-AV6334C、ZS1-AV6334D、ZS1-AV6334E五種。

主要點：
● 調零能
● 量程自動、量程保持和手動切換能
● 波長響應補償能
● 數據存儲、回看、輸出能
● 分光比及分光損耗測試能(**ZS1-AV6334B，ZS1-AV6334C型)
● 參數設定能
● 測量應用能
● GPIB和RS232接口能

●調零能
該產品提供了用戶手動調零能。該能可消除光電探測器的暗電流及噪聲所產生的等效率，對于-50dBm以下的微弱輸入光率，可行遮光調零，再行測試，這樣可以提測量精度。
●量程自動、量程保持和手動切換能
該產品提供了量程自動、量程保持和手動切換能。用戶可根據被測光率變化范圍、變化速度的不同，采取不同的量程方式行測試。例如，對于變化范圍不足10dB的輸入光率，選擇量程保持能，可節省量程自動切換方式下所消耗的時間，大大提了測量速度。
●波長響應補償能
為滿足用戶對波段范圍內的率測試，該產品內置了與光電探測器相符的波長響應補償曲線。另外，該產品還可根據用戶的殊要求，對某些殊波長點行校準。
●數據存儲、回看、輸出能
該產品為用戶提供了測試過程中的數據存儲、數據回看、數據輸出能，以方便用戶對紀錄的數據行后期處理。
●分光比及分光損耗測試能
該產品系列中的ZS1-AV6334B，ZS1-AV6334C光率計，還為用戶別提供了分光比及分光損耗測試能，非常適合光耦合器等無源光器件生產制作過程中的率分配和率損耗的監測。
●參數設定能
為方便測試，該產品提供了參數設定能，諸如用戶自定義波長λ、相對測量參考率值REF、用戶校準因子CAL、GPIB地址、分光比設定CPLR、時鐘CLOCK等參數，用戶均可根據需要行設定。
●測量應用能
該產品為方便用戶使用，別提供了測量應用能，如測量值MAX、值MIN、值DIF能，可用于輸入光率的穩定度相關的測試。
●GPIB和RS232接口能
該產品提供了GPIB接口和RS232接口。RS232接口可用于測量數據實時輸出。GPIB接口可用于與其它GPIB設備及PC機組成自動測試系統。

典型應用：使用ZS1-AV6334光率計測量光源的輸出光率大小和輸出光率穩定度。
 　　將光源的率輸出端口與光率計的率輸入端口用光纖跳線相連，開機行預熱，設定光率計的測量波長與光源中心波長致，則測量顯示值即為光源輸出光率大小。
根據測試要求，在測量應用提供的值MAX測試、值MIN測試、值DIFF測試三個能中選擇個，開啟運行，同時儀器時鐘從零開始計時。在規定的測量時間內，光率計能夠自動測試并紀錄測量值，測量時間到后，停止值測試，則值測量顯示值即為光源輸出光率的穩定度。
典型應用二：使用ZS1-AV6334光率計測量光耦合器的分光比。
 　　用光纖跳線將光源輸出口和光耦合器輸入端連接，將光耦合器的兩個輸出端分別用光纖跳線接入ZS1-AV6334B或ZS1-AV6334C光率計的兩個輸入通道。按下“方式”鍵，光率計從普通測量模式入分光比測試模式，儀器顯示的測量值即為分光比和總率損耗。ZS1-AV6334B或ZS1-AV6334C為用戶提供的這別能，非常適合光耦合器等無源光器件生產制作過程中的率分配和率損耗的監測。

術規范：

注1：校準波長為850nm、1310nm、1550nm。
注2：當天校準，環境溫度23℃±5℃，恒溫，FC適配器，連續波。
注3：環境溫度0℃～40℃，恒溫，FC適配器，連續波。
注4：當天校準，環境溫度23℃±5℃，恒溫，FC適配器，連續波。
注5：RS232接口輸出。