平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀 型號：HAD-WLP-209

HAD-WLP-209型平均粒度測試儀根據家標準（費氏法）要求，在對被測粉末試樣施壓時，采用了LTDK型可設定空轉式扭矩起子，（非同其他儀器所使用無科學依據的壓力校正器）。采用LTDK型扭矩起子，可使何操作人員在對粉末測試過程中均可達到相同的壓制力，*地得到同種*孔隙度，消除了人為誤差，使被測粉末粒徑更加準確，同時本儀器配有雙向擴展讀數板，孔隙度范圍由原來的0.80—0.40（擴到0.95—0.80、擴到0.40—0.25），滿足了各種粉末測試需求。

術標： 

1、精度：±3% 
2、測試范圍： 0.2-50 μ m （微米） 
檔： 0.2-20 μ m 
二檔： 20-50 μ m 
3.孔隙度范圍：0.95－0.80
0.80－0.40
0.40－0.25
4、準確度：±3% 
5、環境濕度：相對濕度 ≤80% 
6、環境溫度： 25 ± 10 ℃ 
7、電源： ～220 ± 22V 50赫茲
8、率： 25W 
9、重量： 18kg 
10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3