能量色散X熒光分析儀/X熒光分析儀/能量色散X熒光檢測儀  型號：HA/CIT-3000SM

適用于礦山、選礦廠、冶煉廠、水泥等企業在生產過程中對產品質量行監測；

1. HA/CIT-3000SM產品配置：

•  采用口的美AMPTEK航天術的SI（PIN）半導體探測器系列
•  采用數字脈沖采集電路及的電源管理術
•  采用口X光管
•  采用用的X射線壓發生器
•  采用RS232串口通訊
•  采用*的系統控制電路和數字處理電路
•  采用有的分析算法軟件模塊V2.0A
•  配備品電腦
•  配備常用的制樣具
•  配備用的壓片機
•  配備用的測試樣環
•  配備用的測試硬標樣

    2.HA/CIT-3000SM 術標：

•  分析元素范圍：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
•  元素含量分析范圍：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更）；
•  采用美航天術的Si (PIN)半導體探測器計數，配合的數字脈沖處理術；
•  測量范圍：1－30KeV； 
•  管壓：0kV-30kV（激發源為 30KV-鎢靶微型X射線管）；
•  管流：5μA-200μA；（可減少整機耗和降低輻射）；
•  整機率：50W；
•  整機能量分辨率：150±5eV；
•  檢測時間： <200S；
•  作環境溫度：溫度0-40℃；
•  作環境相對濕度：≤99%（不結露）；
•  測量物質狀態：固體、粉末均可檢測，制樣簡單；
•  體化*，性能穩定，運行可靠，性價比；操作簡單，測量時間短；