H19821便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規定*。 它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由精寬的恒流源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω#8226cm標準樣片的測量瓿差不過±，在此范圍內達到家標準機的水平。 2、 主要術標 （1）測量范圍： 可測量 電阻率：0.01～199.9Ω#8226cm。 可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當被測材料電阻率≥200Ω#8226cm數字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續可調 10mA量程：1mA ～10mA連續可調 恒流精度：各檔均優于±0.1 （3） 直流數字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 準確度：0.2（±2個字） （4） 供電電源： AC：220V ±10 50/60HZ 率8W （5） 使用環境： 相對濕度≤80 （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×100×深240（mm） 網址：www.51658042.com 北京恒奧德儀器儀表有限公司 聯系人:經理 聯系電話：15811023934/ 18911282105/ 010-51655247 傳真：010-51717696 旺旺： hadgs、had200911 QQ:1530300049、1733477181、2272048995、 1832389236、2247962207
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